WERTH SCOPE CHECK MB

Werth Scope Check MB jest multisensoryczną maszyną pomiarową o konstrukcji portalowej. Maszyna ta jako jedyna z serii Scope Check posiada łożyskowanie pneumatyczne. Duży zakres pomiarowy (max. 2000x3000x1500) oraz możliwość demontażu szklanego stołu pomiarowego sprawia, że maszyna Scope Check MB jest idealnym rozwiązaniem do wieloczujnikowego pomiaru elementów wielkogabarytowych.

Specyfikacja techniczna

Zakres pomiarowy X [mm] 500-2000
Y [mm] 600-3000
Z [mm] 450-1500
Wymiary instalacyjne Gł.[mm] 1230-3260
Szer.[mm] 1560-5100
Wys.[mm] 2550-5120
Masa urządzenia [kg] 1200-27000
Masa elementu mierzonego [kg] 500-1000
Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,5K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm] 1.8+L/500
MPEE2 [µm] 2.0+L/400
MPEE3 [µm] 2.9+L/300
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm] 1.8+L/120
MPEE2 [µm] 2.0+L/100
MPEE3 [µm] 2.9+L/75
Błąd wskazań dla T=20°±0,5; ΔT=0,25K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm]
MPEE2 [µm]
MPEE3 [µm]
Rozdzielczość liniałów [µm] 0.1
Temperatura pracy [°C] 10-35
Wilgotność powietrza [%] 40-70
Czystość powietrza [mg/m3]
Pobór mocy [VA] 1600
Pobór powietrza [Nl/h] 3600
Zasilanie [V] 230
Zasilanie pneumatyczne [bar] 6

DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE

Fixed optics

Optyka stałoogniskowa .

Werth Laser Probe (WLP)

Laserowy pomiar skaningowy w osi Z.

Wert Zoom (patent)

Optyka zmiennoogniskowa.

Chromatic Focus Point (CFP)

Konfokalny pomiar skaningowy w osi Z.

Autofocus

Kontrastowy pomiar topografii

Werth Laser Probe (WLP)

Topograficzny pomiar sondą triangulacyjną.

IP 40

Sonda optyczna obrotowo-uchylna.

DOSTĘPNE SENSORY STYKOWE

Renishaw TP200

Precyzyjne pomiary punktowe.

Reniahaw SP25

Stykowe pomiary skaningowe.

Werth Contour Probe (WCP)

Sonda konturograficzna (profilometr).

Werth Fiber Probe 2D

Mikrosonda światłowodowa 2D

Renishaw SP80

Precyzyjne pomiary skaningowe 3D.

DOSTĘPNE TECHNOLOGIE

IP in the image

Optyczny pomiar statyczny.

IP on the image

Optyczny pomiar łączony.

IP scanning

Optyczny skaning nieznanego konturu.

Raster Scanning HD

Dynamiczny skaning rastrowy.

Werth Flatlight

Oświetlacz telecentryczny.

Werth Multiring (patent)

Oświetlacz o zmiennym kącie oświetlania.

On the fly

Dynamiczne pomiary optyczne 3D.

Point to Point

Stykowe pomiary punktowe.

Probe scanning

Stykowe pomiary skaningowe.

WMS40

Opatentowany interfejs multisensoryczny.

Rotarty Axis

Dodatkowa oś obrotowa CNC.

Renishaw PH 10

Głowica obrotowo-uchylna.

Rotary Swivel Axis

Dodatkowe osie obrotowe A i B – CNC.