Werth Video Check DZ
Niektóre elementy produkowane w przemyśle, posiadają na tyle skomplikowany kształt, iż dostęp do niektórych cech pomiarowych jest niemożliwy przy zamocowaniu wszystkich sensorów na jednej osi Z. Odpowiedzią na problematykę pomiaru tej klasy wyrobów jest maszyna pomiarowa Werth Video Check DZ, która posiada dwie niezależne osie Z. Pomimo zaawansowanej budowy, obsługa systemu jest bardzo intuicyjna z uwagi na przyjazne oprogramowanie WinWerth, które integruje wszystkie sensory Werth.
Specyfikacja techniczna
| Zakres pomiarowy
(zakres pojedynczego sensora) |
X [mm] | 400(530)-1000(1130) |
| Y [mm] | 400-2000 | |
| Z [mm] | 300-600 | |
| Wymiary instalacyjne | Gł.[mm] | 1300-4350 |
| Szer.[mm] | 1274-2436 | |
| Wys.[mm] | 2000-3700 | |
| Masa urządzenia | [kg] | 1500-12400 |
| Masa elementu mierzonego | [kg] | 150 (opc. 300) |
| Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,5K/h * L wyrażona długość w mm. |
MPEE1 [µm] | 0.75+L/500 |
| MPEE2 [µm] | 0.95+L/400 | |
| MPEE3 [µm] | 1.5+L/300 | |
| MPEE3 [µm] | ||
| Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h * L wyrażona długość w mm. |
MPEE1 [µm] | 0.75+L/350 |
| MPEE2 [µm] | 0.95+L/350 | |
| MPEE3 [µm] | 1.5+L/250 | |
| MPEE3 [µm] | ||
| Błąd wskazań dla T=20°±0,5; ΔT=0,25K/h * L wyrażona długość w mm. |
MPEE1 [µm] | – |
| MPEE2 [µm] | – | |
| MPEE3 [µm] | – | |
| MPEE3 [µm] | ||
| Rozdzielczość liniałów | [µm] | 0.05 |
| Temperatura pracy | [°C] | 10-35 |
| Wilgotność powietrza | [%] | 40-70 |
| Czystość powietrza | [mg/m3] | 0.05 |
| Pobór mocy | [VA] | 2500 |
| Pobór powietrza | [Nl/h] | 12000 |
| Zasilanie | [V] | 230 |
| Zasilanie pneumatyczne | [bar] | 7-10 |
DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE
Fixed optics
Optyka stałoogniskowa .
Werth Laser Probe (WLP)
Laserowy pomiar skaningowy w osi Z.
Wert Zoom (patent)
Optyka zmiennoogniskowa.
Chromatic Focus Point (CFP)
Konfokalny pomiar skaningowy w osi Z.
Autofocus
Kontrastowy pomiar topografii
Chromatic Focus Line (CFL)
Sonda CFP w wersji topograficznej
IP 40
Sonda optyczna obrotowo-uchylna.
Nano Focus Probe (NFP)
Topograficzny pomiar konfokalny.
Werth Interferometer Probe
Interferometryczny pomiar chropowatości.
Werth Laser Probe (WLP)
Topograficzny pomiar sondą triangulacyjną.
DOSTĘPNE SENSORY STYKOWE
Renishaw TP200
Precyzyjne pomiary punktowe.
Reniahaw SP25
Stykowe pomiary skaningowe.
Werth Contour Probe (WCP)
Sonda konturograficzna (profilometr).
Werth Fiber Probe 2D
Mikrosonda światłowodowa 2D
Renishaw SP80
Precyzyjne pomiary skaningowe 3D.
Werth Fiber Probe 3D
Mikrosonda światłowodowa 3D.
DOSTĘPNE TECHNOLOGIE
IP in the image
Optyczny pomiar statyczny.
IP on the image
Optyczny pomiar łączony.
IP scanning
Optyczny skaning nieznanego konturu.
Raster Scanning HD
Dynamiczny skaning rastrowy.
Werth Flatlight
Oświetlacz telecentryczny.
Werth Multiring (patent)
Oświetlacz o zmiennym kącie oświetlania.
On the fly
Dynamiczne pomiary optyczne 3D.
Point to Point
Stykowe pomiary punktowe.
Probe scanning
Stykowe pomiary skaningowe.
WMS40
Opatentowany interfejs multisensoryczny.
Rotarty Axis
Dodatkowa oś obrotowa CNC.
Double Z
Konstrukcja dwupinolowa (dwie osie Z).
Renishaw PH 10
Głowica obrotowo-uchylna.
Rotary Swivel Axis
Dodatkowe osie obrotowe A i B – CNC.