WERTH VIDEO CHECK FB

Werth Video Check FB jest maszyną o konstrukcji z nieruchomym portalem. Większy niż w przypadku Video Check S, zakres pomiarowy sprawia, że urządzenie to jest idealnym wyborem dla użytkowników szukających precyzyjnego pomiaru wieloczujnikowego elementów o większych gabarytach.

Pobierz specyfikacje

Specyfikacja techniczna

Zakres pomiarowy X [mm] 400-2000
Y [mm] 400-1350
Z [mm] 200-800
Wymiary instalacyjne Gł.[mm] 1300-3400
Szer.[mm] 1274-3100
Wys.[mm] 1940-3800
Masa urządzenia [kg] 1100-15000
Masa elementu mierzonego [kg] 150 (opc. 300)
Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,5K/h
* L wyrażona długość w mm.		 MPEE1 [µm] 0.75+L/500
MPEE2 [µm] 0.95+L/400
MPEE3 [µm] 1.50+L/300
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h
* L wyrażona długość w mm.		 MPEE1 [µm] 0.75+L/350
MPEE2 [µm] 0.95+L350
MPEE3 [µm] 1.50+L/250
Błąd wskazań dla T=20°±0,5; ΔT=0,25K/h
* L wyrażona długość w mm.		 MPEE1 [µm] 0.75+L600
MPEE2 [µm] 0.95+L/500
MPEE3 [µm] 1.50+L/400
Rozdzielczość liniałów [µm] 0.05
Temperatura pracy [°C] 10-35
Wilgotność powietrza [%] 40-70
Czystość powietrza [mg/m3] 0.05
Pobór mocy [VA] 2500
Pobór powietrza [Nl/h] 12000
Zasilanie [V] 230
Zasilanie pneumatyczne [bar] 7-10

DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE

Fixed optics

Optyka stałoogniskowa .

Werth Laser Probe (WLP)

Laserowy pomiar skaningowy w osi Z.

Wert Zoom (patent)

Optyka zmiennoogniskowa.

Chromatic Focus Point (CFP)

Konfokalny pomiar skaningowy w osi Z.

Autofocus

Kontrastowy pomiar topografii

Chromatic Focus Line (CFL)

Sonda CFP w wersji topograficznej

IP 40

Sonda optyczna obrotowo-uchylna.

Nano Focus Probe (NFP)

Topograficzny pomiar konfokalny.

Werth Interferometer Probe

Interferometryczny pomiar chropowatości.

Werth Laser Probe (WLP)

Topograficzny pomiar sondą triangulacyjną.

DOSTĘPNE SENSORY STYKOWE

Renishaw TP200

Precyzyjne pomiary punktowe.

Reniahaw SP25

Stykowe pomiary skaningowe.

Werth Contour Probe (WCP)

Sonda konturograficzna (profilometr).

Werth Fiber Probe 2D

Mikrosonda światłowodowa 2D

Renishaw SP80

Precyzyjne pomiary skaningowe 3D.

Werth Fiber Probe 3D

Mikrosonda światłowodowa 3D.

DOSTĘPNE TECHNOLOGIE

IP in the image

Optyczny pomiar statyczny.

IP on the image

Optyczny pomiar łączony.

IP scanning

Optyczny skaning nieznanego konturu.

Raster Scanning HD

Dynamiczny skaning rastrowy.

Werth Flatlight

Oświetlacz telecentryczny.

Werth Multiring (patent)

Oświetlacz o zmiennym kącie oświetlania.

On the fly

Dynamiczne pomiary optyczne 3D.

Point to Point

Stykowe pomiary punktowe.

Probe scanning

Stykowe pomiary skaningowe.

WMS40

Opatentowany interfejs multisensoryczny.

Rotarty Axis

Dodatkowa oś obrotowa CNC.

Renishaw PH 10

Głowica obrotowo-uchylna.

Rotary Swivel Axis

Dodatkowe osie obrotowe A i B – CNC.