WERTH VIDEO CHECK S

Werth Video Check S jest kompaktową precyzyjną multisensoryczną maszyną pomiarową. Zastosowane opatentowane beznaprężeniowe łożyskowanie igiełkowe sprawia, że urządzenie to nie traci swoich walorów dokładnościowych nawet na przestrzeni wielu lat.

Specyfikacja techniczna

Zakres pomiarowy X [mm] 250/400
Y [mm] 125/200
Z [mm] 250/250
Wymiary instalacyjne Gł.[mm] 770/770
Szer.[mm] 586/778
Wys.[mm] 1613/1673
Masa urządzenia [kg] 380/480
Masa elementu mierzonego [kg] 30/40
Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,5K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm] 1.1+L/400
MPEE2 [µm] 1.5+L/300
MPEE3 [µm] – optyka 2.5+L/250
MPEE3 [µm] – styk 2.3+L250
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm] 1.4+L/250
MPEE2 [µm] 1.8+L/200
MPEE3 [µm] – optyka 3.5+L/150
MPEE3 [µm] – styk  3.5+L/150
Błąd wskazań dla T=20°±0,5; ΔT=0,25K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm]
MPEE2 [µm]
MPEE3 [µm]
MPEE3 [µm]
Rozdzielczość liniałów [µm] 0.1
Temperatura pracy [°C] 10-35
Wilgotność powietrza [%] 40-70
Czystość powietrza [mg/m3]
Pobór mocy [VA] 1000
Pobór powietrza [Nl/h]
Zasilanie [V] 230
Zasilanie pneumatyczne [bar]

DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE

Fixed optics

Optyka stałoogniskowa .

Werth Laser Probe (WLP)

Laserowy pomiar skaningowy w osi Z.

Wert Zoom (patent)

Optyka zmiennoogniskowa.

Chromatic Focus Point (CFP)

Konfokalny pomiar skaningowy w osi Z.

Autofocus

Kontrastowy pomiar topografii

Chromatic Focus Line (CFL)

Sonda CFP w wersji topograficznej

Nano Focus Probe (NFP)

Topograficzny pomiar konfokalny.

Werth Interferometer Probe

Interferometryczny pomiar chropowatości.

DOSTĘPNE SENSORY STYKOWE

Renishaw TP200

Precyzyjne pomiary punktowe.

Reniahaw SP25

Stykowe pomiary skaningowe.

Werth Contour Probe (WCP)

Sonda konturograficzna (profilometr).

Werth Fiber Probe 2D

Mikrosonda światłowodowa 2D

Werth Fiber Probe 3D

Mikrosonda światłowodowa 3D.

DOSTĘPNE TECHNOLOGIE

IP in the image

Optyczny pomiar statyczny.

IP on the image

Optyczny pomiar łączony.

IP scanning

Optyczny skaning nieznanego konturu.

Raster Scanning HD

Dynamiczny skaning rastrowy.

Werth Flatlight

Oświetlacz telecentryczny.

Werth Multiring (patent)

Oświetlacz o zmiennym kącie oświetlania.

On the fly

Dynamiczne pomiary optyczne 3D.

Point to Point

Stykowe pomiary punktowe.

Probe scanning

Stykowe pomiary skaningowe.

WMS40

Opatentowany interfejs multisensoryczny.

Rotarty Axis

Dodatkowa oś obrotowa CNC.

Renishaw PH 10

Głowica obrotowo-uchylna.