WERTH INSPECTOR FQ

Werth Inspector FQ jest innowacyjną maszyną pomiarową wyposażoną w magnetyczne napędy bezpośrednie (napędy liniowe). W trakcie optycznego pomiaru w trybie OnTheFly maszyna uzyskuje prędkości na poziomie 1 m/s stanowiąc najszybsze rozwiązanie pomiarowe w swojej klasie. Inspector FQ znajduje zastosowanie wszędzie tam gdzie wymagana jest najwyższa wydajność pomiaru optycznego lub optyczno-stykowego

Specyfikacja techniczna

Zakres pomiarowy X [mm] 400-1000
Y [mm] 400-1000
Z [mm] 200-300
Wymiary instalacyjne Gł.[mm] 1830-3030
Szer.[mm] 1500-2050
Wys.[mm] 2235-2235
Masa urządzenia [kg] 2000-10000
Masa elementu mierzonego [kg] max 150 (opc. 300)
Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,5K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm]
MPEE2 [µm]
MPEE3 [µm]
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm] 2,5+L/120
MPEE2 [µm] 2,9+L/100
MPEE3 [µm] 4,5+L/75
Błąd wskazań dla T=20°±0,5; ΔT=0,25K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm]
MPEE2 [µm]
MPEE3 [µm]
Rozdzielczość liniałów [µm] 0,2
Temperatura pracy [°C] 10-35
Wilgotność powietrza [%] 40–70
Czystość powietrza [mg/m3] max. 0.05
Pobór mocy [VA] max. 2500
Pobór powietrza [Nl/h] 12000
Zasilanie [V] 400 (230) ±10%
Zasilanie pneumatyczne [bar] 7–10

DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE

Fixed optics

Optyka stałoogniskowa .

Werth Laser Probe (WLP)

Laserowy pomiar skaningowy w osi Z.

Wert Zoom (patent)

Optyka zmiennoogniskowa.

Chromatic Focus Point (CFP)

Konfokalny pomiar skaningowy w osi Z.

Autofocus

Kontrastowy pomiar topografii

Chromatic Focus Line (CFL)

Sonda CFP w wersji topograficznej

IP 40

Sonda optyczna obrotowo-uchylna.

Nano Focus Probe (NFP)

Topograficzny pomiar konfokalny.

Werth Interferometer Probe

Interferometryczny pomiar chropowatości.

Werth Laser Probe (WLP)

Topograficzny pomiar sondą triangulacyjną.

DOSTĘPNE SENSORY STYKOWE

Renishaw TP200

Precyzyjne pomiary punktowe.

Reniahaw SP25

Stykowe pomiary skaningowe.

Werth Contour Probe (WCP)

Sonda konturograficzna (profilometr).

Werth Fiber Probe 2D

Mikrosonda światłowodowa 2D

Renishaw SP80

Precyzyjne pomiary skaningowe 3D.

Werth Fiber Probe 3D

Mikrosonda światłowodowa 3D.

DOSTĘPNE TECHNOLOGIE

IP in the image

Optyczny pomiar statyczny.

IP on the image

Optyczny pomiar łączony.

IP scanning

Optyczny skaning nieznanego konturu.

Raster Scanning HD

Dynamiczny skaning rastrowy.

Werth Flatlight

Oświetlacz telecentryczny.

Werth Multiring (patent)

Oświetlacz o zmiennym kącie oświetlania.

On the fly

Dynamiczne pomiary optyczne 3D.

Point to Point

Stykowe pomiary punktowe.

Probe scanning

Stykowe pomiary skaningowe.

WMS40

Opatentowany interfejs multisensoryczny.

Rotarty Axis

Dodatkowa oś obrotowa CNC.

Double Z

Konstrukcja dwupinolowa (dwie osie Z).

Renishaw PH 10

Głowica obrotowo-uchylna.

Rotary Swivel Axis

Dodatkowe osie obrotowe A i B – CNC.