WERTH FLATSCOPE
Optyczna maszyna pomiarowa Werth FlatScope jest urządzeniem o opatentowanej konstrukcji i cieszącym się największym uznaniem wśród producentów elementów wyciskanych takich jak profile aluminiowe, profile okienne itp, a także wszelkiego rodzaju elementów uszczelniających czy blach wielootworowych. Pomimo dużego zakresu pomiarowego (max. 600×650) system zapewnia najwyższą rozdzielczość optyczną z uwagi na ruch kamery o wysokiej rozdzielczości w płaszczyźnie XY. Dzięki takiemu podejściu możliwa jest wiarygodna inspekcja nawet najmniejszych cech wyrobu.
Opatentowany tryb skaningu rastrowego (Raster Scanning HD) gwarantuje bardzo szybki dostęp do wyników pomiaru.
Specyfikacja techniczna
Zakres pomiarowy | X [mm] | 400/400/650 |
Y [mm] | 200/400/650 | |
Maksymalna wysokość elementu mierzonego | [mm] | 100 |
Wymiary instalacyjne | Gł.[mm] | 567-990 |
Szer.[mm] | 752-1312 | |
Wys.[mm] | 1130-1439 | |
Masa urządzenia | [kg] | 190-410 |
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h * L wyrażona długość w mm.
Optyka 0.4x |
MPEE1 [µm] | 4.9+L/100 |
MPEE2 [µm] | 4.9+L/75 | |
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h * L wyrażona długość w mm.
Optyka 0.4x Hi-Res Kamera |
MPEE1 [µm] | 2.5+L/100 |
MPEE2 [µm] | 2.9+L/75 | |
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h * L wyrażona długość w mm.
Optyka 0.2x |
MPEE1 [µm] | 9+L/100 |
MPEE2 [µm] | 9+L/75 | |
Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h * L wyrażona długość w mm.
Optyka 0.2x Hi-Res Kamera |
MPEE1 [µm] | 4.9+L/100 |
MPEE2 [µm] | 5.5+L/75 | |
Rozdzielczość liniałów | [µm] | 0.1 |
Temperatura pracy | [°C] | 10-35 |
Wilgotność powietrza | [%] | 40-70 |
Pobór mocy | [VA] | 500 |
Zasilanie | [V] | 230 |
DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE
Fixed optics
Optyka stałoogniskowa .
Wert Zoom (patent)
Optyka zmiennoogniskowa.
Autofocus
Kontrastowy pomiar topografii
DOSTĘPNE TECHNOLOGIE
IP in the image
Optyczny pomiar statyczny.
IP on the image
Optyczny pomiar łączony.
IP scanning
Optyczny skaning nieznanego konturu.
Raster Scanning HD
Dynamiczny skaning rastrowy.
Werth Flatlight
Oświetlacz telecentryczny.