Werth Video Check DZ HA
Werth Video Check DZ HA to multisensoryczna maszyna pomiarowa o podwyższonej dokładności, wyposażona w dwie osie Z do wieloczujnikowego pomiaru wyrobów skomplikowanej geometrii. Możliwość zastosowania dodatkowych osi obrotowych A oraz B (w sumie sześć osi CNC) sprawia, że pomiar wszystkich cech na wyrobie jest możliwy z jednego zamocowania, co redukuje: czas pomiaru, niepewność pomiaru oraz koszty związane ze skomplikowanymi systemami mocowań. Werth Video Check DZ HA jest urządzeniem najczęściej wybieranym przez producentów skomplikowanych wyrobów stosowanych w przemyśle lotniczym.
Specyfikacja techniczna
| Zakres pomiarowy
(zakres pojedynczego sensora) |
X [mm] | 400(530)-1000(1130) |
| Y [mm] | 400-2000 | |
| Z [mm] | 300-600 | |
| Wymiary instalacyjne | Gł.[mm] | 1300-4350 |
| Szer.[mm] | 1274-2436 | |
| Wys.[mm] | 2000-3700 | |
| Masa urządzenia | [kg] | 1500-12400 |
| Masa elementu mierzonego | [kg] | 100 (opc. 250) |
| Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,5K/h * L wyrażona długość w mm. |
MPEE1 [µm] | – |
| MPEE2 [µm] | – | |
| MPEE3 [µm] – optyka | – | |
| MPEE3 [µm] – styk | – | |
| Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1K/h * L wyrażona długość w mm. |
MPEE1 [µm] | 0.5+L/500 |
| MPEE2 [µm] | 0.7+L/400 | |
| MPEE3 [µm] – optyka | 1.5+L/300 | |
| MPEE3 [µm] – styk | 0.5+L/350 | |
| Błąd wskazań dla T=20°±0,5; ΔT=0,25K/h * L wyrażona długość w mm. |
MPEE1 [µm] | 0.5+L/900 |
| MPEE2 [µm] | 0.7+L/600 | |
| MPEE3 [µm] – optyka | 1.5+L/500 | |
| MPEE3 [µm] – styk | 0.5+L/600 | |
| Rozdzielczość liniałów | [µm] | 0.01 |
| Temperatura pracy | [°C] | 10-35 |
| Wilgotność powietrza | [%] | 40-70 |
| Czystość powietrza | [mg/m3] | 0.05 |
| Pobór mocy | [VA] | 2500 |
| Pobór powietrza | [Nl/h] | 12000 |
| Zasilanie | [V] | 230 |
| Zasilanie pneumatyczne | [bar] | 7-10 |
DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE
Fixed optics
Optyka stałoogniskowa .
Werth Laser Probe (WLP)
Laserowy pomiar skaningowy w osi Z.
Wert Zoom (patent)
Optyka zmiennoogniskowa.
Chromatic Focus Point (CFP)
Konfokalny pomiar skaningowy w osi Z.
Autofocus
Kontrastowy pomiar topografii
Chromatic Focus Line (CFL)
Sonda CFP w wersji topograficznej
IP 40
Sonda optyczna obrotowo-uchylna.
Nano Focus Probe (NFP)
Topograficzny pomiar konfokalny.
Werth Interferometer Probe
Interferometryczny pomiar chropowatości.
Werth Laser Probe (WLP)
Topograficzny pomiar sondą triangulacyjną.
DOSTĘPNE SENSORY STYKOWE
Renishaw TP200
Precyzyjne pomiary punktowe.
Reniahaw SP25
Stykowe pomiary skaningowe.
Werth Contour Probe (WCP)
Sonda konturograficzna (profilometr).
Werth Fiber Probe 2D
Mikrosonda światłowodowa 2D
Renishaw SP80
Precyzyjne pomiary skaningowe 3D.
Werth Fiber Probe 3D
Mikrosonda światłowodowa 3D.
DOSTĘPNE TECHNOLOGIE
IP in the image
Optyczny pomiar statyczny.
IP on the image
Optyczny pomiar łączony.
IP scanning
Optyczny skaning nieznanego konturu.
Raster Scanning HD
Dynamiczny skaning rastrowy.
Werth Flatlight
Oświetlacz telecentryczny.
Werth Multiring (patent)
Oświetlacz o zmiennym kącie oświetlania.
On the fly
Dynamiczne pomiary optyczne 3D.
Point to Point
Stykowe pomiary punktowe.
Probe scanning
Stykowe pomiary skaningowe.
WMS40
Opatentowany interfejs multisensoryczny.
Rotarty Axis
Dodatkowa oś obrotowa CNC.
Double Z
Konstrukcja dwupinolowa (dwie osie Z).
Renishaw PH 10
Głowica obrotowo-uchylna.
Rotary Swivel Axis
Dodatkowe osie obrotowe A i B – CNC.