WERTH TOMOSCOPE XS
TomoScope XS to nowość w ofercie przemysłowych tomografów komputerowych Werth. Cechy wyróżniające to urządzenie to przede wszystkim kompaktowa, monoblokowa budowa oraz zastosowana lampa o otwartej konstrukcji i zastosowanym transmisyjnym źródłem promieniowania. Unikalna konstrukcja tego urządzenia w połączeniu z rekonstrukcją obrazu w czasie rzeczywistym to doskonałe rozwiązanie do szybkich i precyzyjnych pomiarów elementów z tworzyw sztucznych, kompozytów, implantów i elementów elektronicznych.
Specyfikacja Urządzenia
| Zakres pomiarowy | ⌀ [mm] | 55-120 |
| L [mm] | 49-97 | |
| Zakres pomiarowy w trybie skaningu rastrowego |
⌀ [mm] | – |
| L [mm] | – | |
| Max. dystans źródło 0- detektor | FDD [mm] | 500 |
| Wymiary instalacyjne (wys./szer./gł.) | [mm] | 583/1300/1370 |
| Masa urządzenia | [kg] | 600 |
| Masa elementu mierzonego | [kg] | 10 |
| Masa elementu mierzonego dla określonego MPE | [kg] | 2 |
| Błąd wskazań dla T=20°±2; ΔT=1 K/h MPEP [µm] | MPEP [µm] | 6.5 |
| * L wyrażona długość w mm. | MPEE [µm] | 6.5+L/75 |
| MPESD [µm] | 5.5+L/100 | |
| Błąd wskazań dla T=16° do 30°; ΔT=2 K/h | MPEP [µm] | 9.5 |
| * L wyrażona długość w mm. | MPEE [µm] | 9.5+L/75 |
| Źródło transmisyjne | [kV] | 130/160 |
| Źródło refleksyjne | [kV] | – |
| Powierzchnia detektora | [mm2] | 65×57/146×114 |
| Liczba pikseli | 1024×1024/2940×2304 | |
| Dystans środków pikseli | [µm] | 50-130 |
| Rozdzielczość pozycjonowania osi obrotowej | [‘’] | 0.36 |
| Rozdzielczość liniałów | [µm] | 0.1 |
| Temperatura pracy | [°C] | 10-35 |
| Wilgotność powietrza | [%] | 40-70 |
| Czystość powietrza | [mg/m3] | – |
| Pobór mocy | [VA] | 2000 |
| Pobór powietrza | [Nl/h] | 3000 |
| Zasilanie | [V] | 230 |
| Zasilanie pneumatyczne | [bar] | 5.5-10 |