WERTH VIDEO CHECK V HA

Maszyna pomiarowa Werth Video Check V HA jest obecnie najdokładniejszym wertykalnym wieloczujnikowym urządzeniem pomiarowym dostępnym na rynku. Typowymi aplikacjami dla tej maszyny są pomiary obrotowych narzędzi skrawających, kół zębatych, osiowosymetrycznych wyrobów gotowych. Użytkownicy Werth Video Check V HA mają do dyspozycji gotowe programy parametryczne do szybkiej inspekcji narzędzi a dzięki zastosowaniu wielu sensorów pomiarowych istnieje możliwość pomiaru najbardziej nietypowych cech specyfikowanych indywidualnie przez klienta końcowego.

Specyfikacja techniczna

Zakres pomiarowy Długość [mm] 300/500/800
Średnica [mm] 300/500/800
Wymiary instalacyjne Gł.[mm] 1151/1226/1226
Szer.[mm] 1435/1577/1577
Wys.[mm] 1900/2854/2854
Masa urządzenia [kg] 2200/4300/4300
Masa elementu mierzonego [kg] 50
Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,1K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm] 0.5+L/900
MPEE2 [µm] 0.7+L/600
MPEE3 [µm] 1.5+L/500
Błąd wskazań dla T=20°±1; ΔT=0,5K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm] 0.5+L/500
MPEE2 [µm] 0.7+L/600
MPEE3 [µm] 1.5+L/300
Błąd wskazań dla T=20°±0,5; ΔT=0,25K/h
* L wyrażona długość w mm.
MPEE1 [µm]
MPEE2 [µm]
MPEE3 [µm]
Rozdzielczość liniałów [µm] 0.01
Temperatura pracy [°C] 10-35
Wilgotność powietrza [%] 40-70
Czystość powietrza [mg/m3]
Pobór mocy [VA] 2500
Pobór powietrza [Nl/h] 12000
Zasilanie [V] 230
Zasilanie pneumatyczne [bar] 7-10

DOSTĘPNE SENSORY BEZSTYKOWE

Fixed optics

Optyka stałoogniskowa .

Werth Laser Probe (WLP)

Laserowy pomiar skaningowy w osi Z.

Wert Zoom (patent)

Optyka zmiennoogniskowa.

Chromatic Focus Point (CFP)

Konfokalny pomiar skaningowy w osi Z.

Autofocus

Kontrastowy pomiar topografii

Chromatic Focus Line (CFL)

Sonda CFP w wersji topograficznej

Nano Focus Probe (NFP)

Topograficzny pomiar konfokalny.

Werth Interferometer Probe

Interferometryczny pomiar chropowatości.

DOSTĘPNE SENSORY STYKOWE

Renishaw TP200

Precyzyjne pomiary punktowe.

Reniahaw SP25

Stykowe pomiary skaningowe.

Werth Contour Probe (WCP)

Sonda konturograficzna (profilometr).

Werth Fiber Probe 2D

Mikrosonda światłowodowa 2D

Renishaw SP80

Precyzyjne pomiary skaningowe 3D.

Werth Fiber Probe 3D

Mikrosonda światłowodowa 3D.

DOSTĘPNE TECHNOLOGIE

IP in the image

Optyczny pomiar statyczny.

IP on the image

Optyczny pomiar łączony.

IP scanning

Optyczny skaning nieznanego konturu.

Raster Scanning HD

Dynamiczny skaning rastrowy.

Werth Flatlight

Oświetlacz telecentryczny.

Werth Multiring (patent)

Oświetlacz o zmiennym kącie oświetlania.

On the fly

Dynamiczne pomiary optyczne 3D.

Point to Point

Stykowe pomiary punktowe.

Probe scanning

Stykowe pomiary skaningowe.

WMS40

Opatentowany interfejs multisensoryczny.

Rotarty Axis

Dodatkowa oś obrotowa CNC.

Double Z

Konstrukcja dwupinolowa (dwie osie Z).

Renishaw PH 10

Głowica obrotowo-uchylna.